背景介绍近年来，随着半导体工艺演进，工艺节点不断缩小，电路复杂度持续上升，频率越来越高，传统的Scan测试方法已经难以满足对速率、覆盖率、功耗和测试时间等多个维度的要求。因此，一种新兴的高速Scan测试方案应运而生. 其突破了传统Scan测试的种种瓶颈。从待测芯片的角度来看传统Scan方式在如今存在以下问题:1.