在材料学和微纳器件等领域，微观结构对宏观性能起到关键作用。然而，在研究过程中，要对关键性微观区域的原位性能研究却困难重重。最常遇到的情况是：在SEM上找到了感兴趣的微区域，当把样品转移到AFM等设备上时，又需要很长的时间再找回相应的微区域 ...

革命性的原子力显微镜（AFM），可实现与扫描电子显微镜（SEM）的无缝集成，为原位关联显微镜开辟新可能。 凭借优化设计，LiteScope AFM 兼容赛默飞世尔、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系统及其配件，其他品牌电镜亦可定制适配。 SEM 与 AFM 原位联用 ...

SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上，透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构。 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的 ...

SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上，透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构。 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的 ...

在众多研究领域，原位，多模态表征技术的需求日益增长。美国Quantum Design公司研发的AFM/SEM二合一显微镜FusionScope，将原子力 ...

本研究针对煤孔隙结构表征中传统方法对形态与表面属性分析的局限性，联合原子力显微镜（AFM）、扫描电镜（SEM）和低压氮气吸附（LP-N2GA）技术，系统解析了从中挥发分烟煤至无烟煤的孔隙演化规律，发现随煤阶升高，表面粗糙度降低、孔隙数量与孔隙率增加 ...

本研究系统探讨了Cu掺杂ZnO薄膜的制备（采用共沉淀与旋涂法）及其结构特性（XRD、SEM、AFM、EDX表征），揭示了Cu掺杂与退火处理显著提升结晶度（晶体尺寸从~17 nm增至~31 nm）与表面粗糙度（从2.8 nm增至8.3 nm），并通过PL光谱证实氧空位缺陷抑制。ATR-FTIR分析表明 ...

推荐新品发布！AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机，开启台式电镜原位关联技术新时代！ 今天，我们激动地推出一款革命性的新产品——Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机，这是一款将 SEM 与 AFM 结合的全新设备，它将开启台式电镜原位关联的新时代，为样品分析带来 ...