为了检测指纹中残留的 cannabis（大麻）成分，本研究采用 ToF-SIMS（飞行时间二次离子质谱）技术，通过不同阶段分析（如大麻药片、污染指纹、粉末显影及胶带转移指纹）的负离子质谱和成像，成功识别出大麻相关化合物如 THC（四氢大麻酚）、CBD（大麻二酚 ...
A focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) featuring a compact Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS) and a traditional microanalytical method of Energy Dispersive ...
Stephan, T., Rost, D., Vicenzi, Edward P., Bullock, Emma S., MacPherson, Glenn J., Westphal, A. J., Snead, C. J., Flynn, G. J., Sandford, S. A., and Zolensky, M. E ...
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