FilmTek 2000 PAR-SE是Bruker公司推出的一款多模计量椭偏仪,适用于几乎所有薄膜或产品晶片测量。该设备集成了尖端的FilmTek技术和多种测量方法,如旋转补偿器设计的椭圆偏振光谱法、多角度偏振光谱反射等,能够在研发和生产环境中提供高精度和多功能性的测量。
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